牛津儀器原裝**線路板孔銅面銅測(cè)厚儀膜厚儀
牛津儀器原裝**線路板孔銅面銅測(cè)厚儀膜厚儀,臺(tái)式專用銅厚測(cè)試儀CMI760有三種不同類型探頭,多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測(cè)量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測(cè)試的多種應(yīng)用需求。
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牛津儀器原裝**線路板孔銅面銅測(cè)厚儀膜厚儀
ETP孔銅探頭測(cè)試技術(shù)參數(shù):
可測(cè)試*小孔直徑:35 mils (899 μm)
測(cè)量厚度范圍:0.08 – 4.0 mils (2 – 102 μm)
電渦流原理:遵守ASTM-E376-96標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)規(guī)定
準(zhǔn)確度:±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)
**度:1.2 mil(30μm)時(shí),達(dá)到1.0% (實(shí)驗(yàn)室情況下)
分辨率:0.01 mils (0.1μm)
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牛津儀器儀器部(OICM),提供全球范圍內(nèi)的支持和服務(wù)網(wǎng)絡(luò).和我們的所有產(chǎn)品一樣,在售前和售后都能夠得到我們上等服務(wù)的保證。
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